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    偏光片吸收軸透過軸光學膜片軸向測量儀NMV-FAM(無導軌)

  • 瀏覽次數:211 
  • 品牌:精創光學
  • 重復測試精度:0.05度
  • 單片測試時間:約10s
  • 產品品牌:精創光學
  • 單價:270000.00元/臺
  • 最小起訂量:1 臺
  • 供貨總量:20 臺
  • 發貨期限:自買家付款之日起 3 天內發貨
  • 有效期至: 長期有效
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產品詳情
 通用標頭3


光學膜片軸向測量儀
是一款全自動測量偏光片和偏光膜吸收軸(透過軸)角度的儀器。

光學膜片光軸測量儀采用偏振光光電探測技術對透過材料的偏振光進行高精度采集測量,從而計算出偏振材料主軸相對機械坐標的夾角,用于指導生產出符合客戶要求角度的偏振材料。對于傳統偏振材料的裁切,其需求角度和裁切角度通常會有一定的偏差,有時會達到0.5°、1°甚至更大,導致后續產品的加工中造成品質差異。因為偏振材料不同軸角度的組合會帶來輸出光強的不一致,客戶直觀體驗出現明顯差異。而吸收軸測量儀目前階段只能針對偏振片進行測量,如補償膜、離型膜就無法進行檢測。光學膜片光軸測量儀通過雙偏振模組機構,實現了一臺設備的綜合測量;全自動檢測,為產品的品質保障提供有力的數據支撐。


測試時采用手動放置偏光片和其他光學膜的方式,可對偏光片和其他光學膜吸收軸角度(透過軸角度)進行單次測量和多次連續測量,并實時顯示測量結果。配置電腦可保存大量測試數據,具備數據查詢,光軸角度分布分析、數據報表導出等功能。


設備優勢:


采用高精度進口電機
,具備極高的角度分辨率,可有效保證測量精度;

測量時樣品載具自動定位,減少人為干擾因素,重復定位精度高;


預先選定測量類型,其中偏振膜與其他薄膜測量算法不同

 
主要
技術參數:


檢測原理:偏振光光電探測技術                                               

偏光板測量范圍:0-180°;

離型膜測量范圍:0-90°;

補償膜測量范圍:0-90°;

精度/標準偏差: 約±0.05°

分辨率: 約為0.02°

視野范圍:φ30mm

構成: 臺式電腦 (含測量軟件一套)、電纜線等             

光源:LED 632.8nm;

圖片1 

 

產品展示2
圖片12
標尾

 
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