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前言
由客戶提供貼片式LED燈珠（已化學剝膠），用掃描電子顯微鏡（以下簡稱SEM）進行微觀結構的觀察與測量，以判斷其功能結構有無異常。
參考標準
JY/T 010-1996 分析型掃描電子顯微鏡方法通則
GB/T 16594-2008 微米級長度的掃描電鏡測量方法通則
樣品處理：將貼片LED放入磁控離子濺射儀，進行鍍導電膜處理。
測試過程：
根據觀察位置調整馬達臺傾斜和水平旋轉的角度，調整傾斜角度時必須嚴格控制樣品臺和極靴之間的距離，以避免損傷電鏡。根據實際情況選取適當的放大倍數，調整圖像至清晰，無明顯干擾橫紋。需測量的目標，在圖片整體中應清晰可見，掃描保存后，再打開系統附帶的精準長度測量軟件進行測量。
效果圖
