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UV-340型紫外輻照計采用SMT貼片技術，選用高精度低功耗數字芯片，儀器外殼為流線型設計，探測器經過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩定，適用性強。適用于光化學、高分子材料老化、紫外光源、以及大規模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。
性能特點
1、光譜及角度特性經嚴格校正
2、數字液晶顯示，帶背光
3、手動/自動量程切換
4、數字輸出接口（USB,冗余供電）
5、低電量提醒
6、自動延時關機
7、有數字保持
8、輕觸按鍵操作，蜂鳴提示
技術參數
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項目 |
參數 |
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波長范圍λ1，峰值波長λp |
（315～370）nm，λP＝340nm |
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輻照度測量范圍 |
(0.1～199.9×103) μW/cm2 |
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紫外帶外區雜光 |
UV254<0.1%，UV297<0.05% |
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零值誤差（滿量程FS） |
<滿量程的±1.0% |
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長波響應誤差 |
<15% |
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余弦特性（方向性響應）誤差 |
<10% |
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非線性誤差 |
<±1.5% |
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換檔誤差 |
±1% |
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疲勞誤差 |
<3.0% |
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相對示值誤差 |
<±8.0％（相對于NIM標準） |
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響應時間 |
<1秒 |
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使用環境 |
溫度(0~40)℃；濕度＜85％RH |
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尺寸和重量 |
160mm×78mm×43mm；0.2kg |
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電源 |
6F22型9V積層電池（非充電電池） |
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整機功耗 |
＜0.1VA |
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配置 |
主機、340探頭、探頭蓋、數據線、說明書、合格證、9V電池等 |
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