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    測量顯微鏡|15JE數顯測量顯微鏡|小型測量顯微鏡

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  • 品牌:上海光學
  • 單價:100.00元/臺
  • 最小起訂量:1 臺
  • 供貨總量:10000 臺
  • 發貨期限:自買家付款之日起 3 天內發貨
  • 有效期至: 長期有效
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產品詳情

一.產品用途

15JE數顯測量顯微鏡是光學計量儀器之一,它結構簡單,操作方便,適用范圍極廣。主要用于以下幾個點

1. 直角坐標中測定長度,例如測定孔距,基面距離,刻線寬度,鍵槽寬度,狹縫寬度,通孔外圓直徑等等。

2. 轉動度盤測定角度,例如對刻度盤,樣板、量規,鉆孔模板及幾何形狀復雜的零件進行角度測量。

3. 用作觀察顯微鏡,以比較法檢查工作表面光潔度,鑒定冶金工業的礦石標本。檢定印刷照相制版,檢驗紡織纖維等等。

二. 技術規格

1. 目鏡放大倍率10×焦距5mm

2. 物鏡

放大倍率

焦距mm

工作距離mm

視場直徑(mm)

2.5×

43.40

58.84

5.60

10×

17.13

7.81

1.40

3. 總放大倍數:25×、100×

4. 測量工作臺

① X軸移動測量范圍 50毫米

② Y軸移動測量范圍 13毫米

③ 數顯分辨率:0.001毫米

④ 測量工作臺直徑 120毫米

⑤ 測量臺轉動范圍 不限

⑥ 測量臺刻度盤分度范圍 -360°

⑦ 測量臺刻度盤之分度值 1°

⑧ 測量臺刻度盤游讀數示值 6′

5. 測量精度: 儀器示值誤差:±(5+L/15)μm 

儀器示值誤差:包括測量誤差與儀器系統誤差

 注:測量地點溫度變化:(20?±3?)C ;L—被測件長度(mm)

6. 照明下照明自然光

7. 儀器外形尺寸 325×長262×寬220毫米

8. 儀器重量10.6公斤

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