設備用途:

我司全新研發的超聲波掃描顯微鏡（SAT），是一種利用水為傳播媒介，利用合適頻率的超聲波，對各類材料和半導體器件進行無損檢測的設備，能夠檢測出樣品內部的氣孔、裂紋、夾雜和分層等缺陷，并以圖形的方式直觀展示。在掃描過程中，不會影響樣品性能，不會對樣品造成損傷。


應用領域:

半導體電子行業：半導體晶圓片、封裝器件、大功率器件IGBT、紅外器件、光電傳感器件、SMT貼片器件、MEMS、塑料封裝IC、晶片、PCB、LED等;
材料行業：復合材料、鍍膜、電鍍、注塑、合金、超導材料、陶瓷、金屬焊接、摩擦界面等； 
 
設備特點：

掃描模式齊全：
1.1 超聲波傳輸時間測量（A掃描）
1.2  縱向截面成像（B掃描）
1.3 X/Y二維成像（C、D、G、X掃描）
1.4 三維掃描與成像
1.5 T掃描：檢測透射信號

具備定量測分析功能，以圖像方式直觀顯示被測件內部缺陷的位置、形狀和大小，并進行缺陷的尺寸和面積統計，自動計算缺陷占所測量面積的百分比;

具備缺陷尺寸標識、厚度與測距等功能;

具備圖像著色功能，根據灰度等級手動著色；可根據厚度變化，自動著色，可根據相位翻轉自動著色；

頻率范圍：1~100MHz，可根據實際需要更換不同頻率探頭;

自主研發檢測軟件，可根據客戶需求對功能進行持續升級。